主动和被动电子元件
研究文章

Thermal-Aware测试进度和TAM共同改进三维集成电路

图10

案例3的结果。
763572. fig.0010a
(一)
763572. fig.0010b
(b)
763572. fig.0010c
(c)
763572. fig.0010d
(d)