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体积 2016年 |文章的ID 5302681 | https://doi.org/10.1155/2016/5302681

德米特里·特鲁什尼科夫,埃琳娜·克罗托娃,埃琳娜·科列娃 在电子束焊接期间使用焦点扫描过程控制期间等离子体中的二次电流传感器",中国传感器杂志 卷。2016年 文章的ID5302681 13. 页面 2016年 https://doi.org/10.1155/2016/5302681

在电子束焊接期间使用焦点扫描过程控制期间等离子体中的二次电流传感器

学术编辑器:Stephane Evoy.
收到了 2016年8月14日
接受 2016年10月12日
发表 2016年11月24日

抽象的

我们考虑构建电子束焊接闭环聚焦控制系统的问题。作为反馈信号,我们使用在焊接区上方形成的等离子体中的次级电流。本文在具有聚焦扫描的电子束焊接期间介绍了等离子体中的二次电流传感器的模型。使用实验数据的建模结果的比较证实了模型的充分性。我们表明,当使用相位关系而不是幅度关系时,获得了对焦控制的最佳结果。我们概述了基于等离子体中二次电流参数构建EBW对焦控制系统的原理。我们模拟了控制系统电路的工作,并展示了合成系统的稳定性。我们在实验原型上进行了试点测试。

1.介绍

电子束焊接(EBW)广泛用于电力工程和航空航天等高科技工业领域。这是由于EBW产生深层熔化的能力,其中焊接深度与焊接宽度的比率大,金属变形和小型热影响区宽度很大。

大量作品[1- - - - - -5已经致力于研究熔化的机制和规律,而不知道它不可能使用电子束来处理材料。尽管在研究这一过程方面取得了成功,但在EBW理论和实践中仍有相当多的问题仍未解决。在EBW期间形成焊接接头是一种复杂的过程,由强大的集中能量源(电子束)施加在焊接材料上的效果引起的许多因素的综合影响;看 [5- - - - - -10.].尽管已经稳定了为电子束设备提供的设备的所有电气特性,但通常很难复制高质量的焊接接头。在大多数情况下,电子束聚焦用于生产复杂而昂贵的产品(飞机、航天器、直升机齿轮等的燃气涡轮发动机部件)的关键接头,而电子束聚焦的错误选择可能导致灾难性的后果。

自适应控制使得可以在焊接和相关过程中确保一致的质量[11.- - - - - -16.].其措施可以降低随后的机械加工中的津贴的大小,从而降低生产成本和提高过程的能量效率。除了解决上述问题之外,使用该操作控制和监控,可以显着降低对过程优化的费用,这也使得可以降低整体生产成本。

x射线辐射与电子束焊接工艺参数之间的关系已作了相当深入的研究[17.18.].在铝合金焊接过程中控制电子束的照射目标和自动控制熔深方面取得了有价值的结果。在焊接过程中,对直接稳定聚焦条件的重视明显不足。

有了着名的初步设置方法,利用特殊传感器和计算机断层摄影算法分析光束密度分布[19.- - - - - -23.[但是直接在焊接过程中使用这些方法是有问题的,需要定期中断该过程,这对焊接接头的质量产生负面影响。

由强化电子束对EBW期间金属的影响引起的具体过程之一是操作区域中的等离子体的形成[67].等离子体的参数与电子束对被焊金属的热效应密切相关。在[89[是否建议了等离子体电流参数用于电子束聚焦控制。用于注册收集的等离子体电流的方案如图所示112.].突出显示的是标准电子束焊接机,具有热电偶电子枪( ),带有聚焦线圈( )最后,对面的焊接标本( ),全部位于真空室中。从电子枪产生的电子束被引导和聚焦在样品表面上。蒸气/等离子体物流由钥匙孔准直,使其扩展向上。在浸入等离子体羽流中的正收集电极的情况下,排出在两个电极,接地样品(阴极)和等离子体电子(阳极)的环收集器之间发出。收藏者 ( )位于接地真空金属室中的电子枪的末端下方。在外收集器电路槽中,负载电阻( )50Ω连接到50 V的正电压。测量和存储器块签名为( ).

所有已知的电子束聚焦控制方法使用二次排放和聚焦透镜电流之间的极端相关性。这些相关性的特征在于死区和用于确保类似信号参数的聚焦透镜电流的两个值。在构建自动聚焦控制系统时,使用焦斑的高频扫描存在自然希望[24.- - - - - -27.].然而,到目前为止,在这种情况下等离子体中二次电流波形的形成还没有被研究。直到最近,文献中还缺乏描述电子束聚焦扫描电子束电子束束间电子束束间二次波形形成模型的信息。在建筑控制器中,著名的作品使用在静态条件下研究获得的关系。在这种情况下,等离子体中电流作为聚焦电流的函数的极端行为是由电子束的能量密度引起的,还是与穿透通道几何形状的变化有关,这是未知的。因此,对于选择扫描电子束焦点的频率没有任何建议。

文献[12.[展示了相干累积方法使得可以开发新的EBW控制方法。显示了移动到相位参数的可取性。当使用同步累积方法处理等离子体中的二次电流的波形时,看到次级波形相对于偏转线圈的电流延迟。滞后值表征相互作用区中加热过程的惯性。保持恒定的滞后使得可以使渗透通道中的金属加热金属的强度,而不管外部参数(初始温度,焊接速度,振荡参数等)。然而,这项工作缺乏这种滞后发生的任何推理或滞后变化的性质。此外, [12.24.很难阐明利用所述传感器的波形组织控制系统的问题。

2.结果和讨论

2.1。EBW期间二次波形形成模型

使用电子收集器研究二次电流,该电子收集器位于焊接桥上并用于从等离子体上采样电流。除了梁电流之外,该电流的尺寸是通过穿透的形状和尺寸确定的channel, conditions of the flow of current in the plasma, the position of the beam’s area of interaction with the metal, the position of the beam’s focus in the penetration channel, and so forth [28.29.].因此,等离子体电流非自持续放电产生的二次波形可以表示为[30.]: 在哪里 是参数的矢量( ) 和 是该矢量的函数,该矢量反映了电子通过通道向外移动过程的随机性,该通道包含了除电子束电流外影响检测电流大小的所有因素。

在式(1),这个函数 可以分解为三部分之和,分别表示依赖于和独立于焦点电流的分量和依赖于焦点电流变化率的部分: 在哪里 是一个 - 比例的参数向量( ),它包含了除电子束电流、聚焦电流和聚焦电流变化率外影响检测电流大小的所有因素。我们把 是从聚焦电流的比例变化率。此外,让我们 与二次电流的幅度成比例。特别是,它何时接近零 接近零。

我们假设给定高频焦点扫描(扫描焦点 > 300 Hz)穿透通道的几何形状在扫描期间无法显着变化。然后是这个功能 仅取决于聚焦电流对电子束添加的能量的磁通密度的影响。

我们近似这种关系,如果电子束在等离子体相互作用区域上方的条件下撞击平坦的样本,则将观察到这一关系,作为高斯函数: 在哪里 是一定的比例系数,σ.是一个表征功能形状的参数, 是重点电流,和 是锐聚焦电流的值,最大化电子束添加的能量的磁通密度。

为了实现焦点扫描,我们介绍了根据焦点电流的谐波振荡 在哪里 是聚焦电流调制的幅度, 是聚焦电流的平均值,ω.是扫描频率,和 是时候了。

公式 (3.)成为 在哪里 是焦点状态。

根据 (2)和(5),二次电流的大小是

然后是次级波形的时间变化(1)可以表示为多重傅里叶级数: 串联系数由

考虑(6),我们得到

如果没有额外的外部循环效果,频率是焦点扫描频率的倍数ω.,傅立叶系列的系数 不依赖 由于该组件的随机性质:

由(7)和(9代表了在电子束聚焦电流中的周期性分量的血浆中形成次级波形的数学模型。数学模型使得可以通过频率从传感器检测波形的组件 , 在哪里 是一个整数。

无论如何,我们将为所有条款引入符号

在三角形式中,(7)成为 串联系数由以下表达式定义(10.),(11.)和(12.):

在图中2,我们介绍了集电器电流谐波分量的数值计算的结果 对于频率的频率,如对焦电流调制频率的倍数(16.).第一个谐波的幅度 是小的,在一定范围内变化的焦点与焦点离锐焦点的偏差大小成正比。

使用 (14.) - (17.)在分析和建造过程控制系统被公式中积分表达的复杂性受到阻碍时。因此,我们提出了整数表达式(15.) - (17.)作为Maclaurin系列 在哪里

对于实际应用的准确性,我们可以鉴于(18.)通过整个数字轴收敛。如果是这样的限制是允许的 并且对于所描述的过程是典型的。

然后我们有

然后计算傅立叶系列的系数

将我们的组件限定为三个术语 ,哪个振荡的偏移 相对于聚焦电流的波形,我们获得

计算调查(15.) - (17.)显示剩余组件的幅度是比第一谐波的幅度小的一个或多个数量级,因此在我们的波形的表示中,我们将自己限制为仅为第一次谐波。因此,表示为傅里叶系列的波形变为 在哪里系数 由(20.)和(21.).表达式(20.) - (23.)是聚焦扫描电子束焊接过程中等离子体二次电流传感器的数学模型。

评估所取得的假设的正确性(23.)并且为了验证EBW在EBW期间形成次级波形的形成模型的充分性,将建模结果与实验数据进行比较。四种因素变化:光束电流, ,焦点模式, ,电子束聚焦扫描频率, 和焦点扫描的幅度,

在焊接过程中,使用具有多通道模拟数字接口的计算机化测量系统来记录等离子体中的二次电流。同时,记录与偏转线圈中的电流成比例的波形。记录结果被写入文件以进行后续处理。

利用同步检测方法对实验数据样本计算聚焦扫描频率处等离子体中二次电流的波形幅值[31.- - - - - -33.].该方法的算法由图中的电路解释3..可变组件 .然后,如果有必要,将该分量的相位移位: .得到的波形乘以等离子体中的二次电流的波形,结果随时间平均:

给定零相移和足够的波形样本时间 ,转化的结果(24.)接近由(21.)( ).给予π/ 2相移,(22.)让我们计算 .同步检测方法的一个优点是数字和模拟形式的简单实现。

45给出振幅组成的曲线 ,使用近似计算(21.),并且用于两种EBW模式和振荡参数的实验获得的数据点。实验数据的变化的行为证实了模型的结果。

对模型的振幅进行比较分析 21.)和经验值(24.)确认模型的适当性。费雪准则[34.] 151, 价值是10.-10并且相关系数为0.84,表示所得功能与观察到的参数之间的直接关系。

与建模结果的实验​​数据的比较证实了给定高频聚焦扫描第一个谐波幅度变化的行为的假设 由电子束在聚焦电流上添加的能量的磁通密度的幅度的极度依赖性引起的。统计处理证实了建模结果也意义重大,这表明扫描频率在考虑到第一谐波的幅度的范围内的弱影响。

67在EBW期间处理焦点扫描期间等离子体中次级电流波形的结果,用于焦点扫描,用于低繁殖和过度繁殖的模式。对于低植被和过度繁殖的模式,等离子体中的次级电流的组分以焦点扫描波形相位振荡,在通过尖锐的焦点移动时改变迹象,但在剧焦焦点附近发生的情况急剧发生变化(图7).

正如我们模型所预测的那样,在尖锐的焦点中,重点第一次谐波的幅度 与聚焦电流的振荡相一致,接近于零。与此同时, 出现组件,它具有相移 相对于焦点扫描波形。与...相比,该组件的值几乎不变。 焦点条件的价值远远远非剧焦。

数字9在使用同步集成方法的应用时,介绍建模波形的形成的结果。结果曲线的外观与实验数据一致(图67,8).在较低的模式下,当升高焦点时,次要波形的大小增加,但在过掺合的模式下,当焦点在渗透通道中降低焦点时,波形最大。鉴于尖锐的焦点,次级波形的幅度几乎保持不变,但其振荡的阶段偏移π/ 2相对于扫描波形。

尽管在建立模型方面,我们基本上使用了接受对最佳控制器分析的方法,所获得的结果具有许多基本差异。在最佳控制器中,在效应频率接近的极端所有组件中移动零。在我们的情况下,不要说第一个谐波的幅度等于零。它的幅度几乎保持不变,但阶段发生变化;并且在剧焦焦点时,相移是π/ 2。因此,必须在自动控制中使用相位关系。此外,振荡相位振荡的组件的幅度( )或转变π/ 2(组件 )可以测量以便计算相位。例如,给定尖锐焦点,相对于扫描波形的电流的次级电流的振荡相位的相位的偏移是π/ 2,其对应于零 或为的最大值

当使用(21.)在一般情况下,系统的稳定工作范围受到敏锐焦点的某种最大偏差的限制。这种偏差的大小不得超出波形的单调变化范围 .对于由Paton电焊学院设计的电子枪,此范围是 马。

该方法的其他缺点包括自动控制系统受电子收集器的布置和尺寸的影响,偏置电压的量等的事实,等等。通过精确地获得所有关系,以依赖于上面列出的因素的恒定系数。该解决方案是直接计算表征次级波形的第一次谐波相对于聚焦线圈电流的波形的阶段的变化的幅度: 在哪里 是一种实验确定的系数,取决于焊接材料(钢,  A/s).

数字10.示出了相对于聚焦扫描波形等离子体中的二次电流的相移与相移的相位偏移之间的关系 和焦点模式 .显然,这种关系在整个范围内是线性的。另外,如已经说明的,通过降低二次电流传感器(电子集电极)的尺寸和其相对于焊接区域的位置来增加对相位关系的转换增加了结果的再现性。

2.2。电子束焊接自动聚焦控制系统的开发

在上一部分中,我们表明,该谐波相对于扫描波形的阶段的变化取决于焦点模式并变成π/2给出了使电子束所增加能量的通量密度最大化的聚焦电流。表示相移的值 根据(29.)当光束处于尖锐的焦点时,变为零。

数字11.呈现功能图,阐明了EBW的焦点控制方法的本质。在电子束焊接期间,电子束焊接设备包含( )电子枪( )聚焦线圈,( )聚焦线圈电流的放大器,和( )电子收集器以检测二次电流,用途( )调制块以频率调制电子束的聚焦电流ω.和电路含有( )偏压电压源和( )负载电阻,其串联连接到电子集电极,以检测二次电流。来自( )用( )具有截止频率的高频滤波器 为消除被测波形中的常数分量,并与二次电流大小成比例,向( )同步检测块。( )同步检测块处理波形,该波形与次级电流的大小成比例,以及来自( )调制块以确定次级波形的谐波的大小 ,它与来自调制块的波形相位。放大的波形提供给( )控制块,其中它与值进行比较 先前由(25.),控制波形输出到( )聚焦线圈电流的放大器。优选的形状( )电子收集器是一个带有孔径的扁平圆盘,安装在垂直于电子束轴线的焊接区上方。从集电极到焊接区域的推荐距离为20-50 mm,这降低了等离子体中离子声不稳定性的水平[28.34.],它在令人兴奋的非自我持续放电时出现。同步检测块,其操作由图中的框图解释10.,处理次要波形(24.).

来自块9和11的波形,用于谐波的同步检测 抵达 ( )分割块,其中次级波形相对于扫描波形的阶段的转换的切换 计算。然后 用于在帮助下控制重点( )控制块。移动到相位关系使系统更普遍,并通过减少二次电流传感器(电子收集器)的位置和尺寸的影响来提高结果的再现性。

为了计算控制器参数,分析控制系统稳定运行时的稳定性,在Matlab Simulink中对控制系统的运行进行了仿真。图中给出了稳定运行的自动调焦控制系统的结构框图12.

指定的焦点模式 被视为输入信号。它的当前价值 被视为输出值。这 部分对应于描述焦点模式和相对于扫描波形的次级波形的相位之间的链路的等式。 是PID控制器的传递函数吗 在哪里 是比例系数, 是集成常量,和 是差异常数。

聚焦控制系统包括用于偏转线圈电流的放大器,线圈本身。我们以一阶宽松电路的形式提供电路的传递函数: 在哪里 稳定通道的特性时间是否基于基于一个恒定值的聚焦电流(我们用0.1 s)和 是渠道的传递系数。

是控制对象的传递函数,它建立了EBW和焦点模式期间等离子体中电流参数之间的链路。这是一阶松弛电路: 持续时间的地方 代表在改变功率密度时热发射率的行为 是放大系数。实验数据 [26.35.]表示次级波形与聚焦扫描频率弱相关,这表明次级波形的尺寸非常迅速地响应功率密度。估计价值 ,我们可以使用估计的能量累积时间 从 [36.].

焦点传感器包含同步检测块(图10.).这个块的操作假设低频滤波器的截止频率为 将用于输出。我们估计了焦点传感器的传递函数 使用二阶巴特沃斯滤波器的特性[37.38.]: 在哪里  s is the filter’s time constant (inverse of the cutoff frequency).

分析并使用公知的方程式理论的方法进行分析和合成控制系统。在我们使用Matlab Simulink的模拟期间接收的开环系统中的瞬态过程如图所示13..CHR方法(Chien, Hrones, and Reswick) [39.40]用于对PID控制器进行整定,这是控制系统的一部分。与Ziegler-Nichols方法不同,该方法使用阻尼比作为质量标准,CHR方法使用在没有超调或超调不超过20%的情况下的最大累积速率。这样的判据使它有可能达到比齐格勒-尼克尔斯法更大的稳定裕度。系数 在计算和调整后,PID控制器的传输功能分别为2,0.1和0.02。

在Matlab Simulink中创建的开环系统的对数幅度和相位特性(图14.),展示系统的稳定性。相位稳定性裕度为62.2°,而幅度稳定性余量为12.6 dB。

数字15.呈现闭环系统中的瞬态特性。控制时间为0.315秒,最大过冲为6%,统计误差项为0。

开发了对焦控制系统的原型来实现所描述的控制方法。图中给出了原型的框图16..发生器和放大器产生聚焦电流调制波形,该波形以聚焦电流的恒定水平应用于适配器模块。在适配器模块中,通过安装在EBW设备加工室中的传感器进行测量,同步检测等离子体中二次电流的波形,确定其相对于扫描波形的相位偏移大小。以模拟形式表示相移的值到达控制块,该控制块使用西门子S7-1200 6ES7211-1AE31-0XB0控制器和6ES7232-4HA30-0XB0模拟输出板实现。控制块使用PID控制来自动保持焦点。与操作员的交互是通过一台工业计算机通过以太网与控制模块相连。

PID控制器的最终调谐在系统的全面测试期间发生。在ELA-6VCH电子束焊接设备上测试原型。参数如下:加速电压60 kV;焊接电流从40到60 mA变化。通过12kH18N10T钢制造的通行证。电子收集器位于距焊接区40mm的距离处,并且是表面积为8cm的环2

数字17.展示了原型的测试结果。在测试期间,通过改变焊接过程中的工作距离(焊接的件和电子枪之间的距离和电子喷枪)来建模外部干扰导致聚焦漂移的影响。该系统确保稳定的焦点,因此,稳定所产生的珠子中所需的几何参数。

结论

(1)我们已经确定,在EBW期间出现的等离子体中的二次电流参数携带有关电子束的熔化条件和焦点的信息,并且可以在过程自动化期间使用。(2)我们获得的模型描述了在等离子体中形成次要波形的机制,并在改变聚焦点扫描的EBW条件时的参数变化。我们已经确定,在EBW期间,在焦点扫描等离子体中二次电流波形中的第一个谐波主导。它的幅度几乎保持不变,但相位从0变化到π从低得潜在的状态移动到过度繁殖的状态。(3)使用实验数据的建模结果的比较证实了模型的充分性。衍生关系中频率的重要性很大。该结果表明电流在聚焦电流上的电流依赖性的极端性质是由于依赖于电子束的能量磁通密度而不仅是穿透通道的几何形状。在转换到相位关系时获得对焦控制的最佳结果。我们已经示出了表征次级波形的第一次谐波相对于聚焦线圈电流的相移相移的值在单调上在焦点模式上依赖于焦点模式而不是在光束的电流上。(4)我们概述了基于等离子体中二次电流参数构建EBW对焦控制系统的原理。我们模拟了控制系统电路的操作。我们研究了合成系统的稳定性以及控制系统中控制器的最佳参数的选择。使用系统确保稳定的焦点,因此,在生产的珠子中实现所需的几何参数,这将导致EBW期间有缺陷的商品显着降低。这些措施可以降低随后的机械加工中的余量的尺寸,这导致生产成本降低并提高了焊接过程的能量效率。除了解决上述问题之外,使用该操作控制和监控,可以显着降低焊接过程优化的费用,这也使得可以降低整体生产成本。

利益争夺

提交人声明没有关于本文的出版物的利益冲突。

致谢

这项工作得到了普遍国家研究理工大学的授予的支持。

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