有源和无源电子元件/2015/文章/图2

研究文章

完全耗尽SOI mosfet中使用纳米级栅槽工艺的异常DIBL效应

图2

传输特性 GRC设备规格: = 2.2 nm和 = 80μ米/ 3μ米, = 300 K。

年度文章奖:由主编评选的2020年杰出研究贡献。阅读获奖文章