主动和被动电子元件/2012年/文章/标签4.

研究文章

热感知测试计划和三维IC的TAM共同优化

表4.

软模模式的结果。

类型 情况1 案例2. 案例3.
1:1 10:1 1:1 10:1 1:1 10:1

硬模模式 测试周期数量 1,823,944 882,200. 1,216,486 1,181,825 86,509,578 86,509,576
选择。谭 38. 113. 138. 162. 31. 31.
规范化的测试成本 1.00 1.00 1.00 1.00 1.00 1.00

软管模式 测试周期数量 1,823,944 882,200. 766,191 611,629. 23,142,087 41,852,141
选择。谭 38. 113. 138. 162. 30. 27.
规范化的测试成本 1.00 1.00 0.69(-31%) 0.59(-41%) 0.54(-46%) 0.80(-20%)

年度奖项:由我们的首席编辑所选的2020年的优秀研究捐款。阅读获奖物品