主动和被动电子元件
研究文章

Thermal-Aware测试进度和TAM共同改进三维集成电路

表2

第二个测试用例。
死 电路 死区(毫米2) 死的权力(W)
死4 p93791 7.30×4.21 42.97
死3 p22810 3.37×2.92 13.79
死2 p34392 2.54×2.86 10.16
死1 f2126 3.29×1.32 6.09
死0 d695 1.33×1.97 3.63