主动和被动电子元件
研究文章

Thermal-Aware测试进度和TAM共同改进三维集成电路

算法1

开始
得到一个初始化时间表 ;
得到一个初始化温度 > 0;
设置温度阈值 ;
设置衰减率 < 1;
而 < 做
1≦ ≦ 做
下一个 一个随机选择的扰动当前的
值(下一个)−值(当前的]
如果 < 0然后当前的 下一个
其他的当前的 下一个只有概率
;
结束了
结束时