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材料科学与工程的发展
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材料科学与工程的发展
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2012年
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图6
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高空间分辨率飞行时间二次离子质谱质量:一种新型正交ToF FIB-SIMS仪器
原位
AFM
图6
4
从镍质谱仪网格胶碳补丁(参见图)。大约六十年的动态范围被这个频谱展出。注意,相对较大的分子由于使用峰值氧驱提高镍离子信号。