研究文章

高空间分辨率飞行时间二次离子质谱质量:一种新型正交ToF FIB-SIMS仪器原位AFM

图20

+ SPM扫描火山口边缘的半导体激光器在40和200帧使用100 pA 20 keV Ga。坑壁不完全正常的火山口地板,但斜率不变火山口变得更深。
180437. fig.0020