期刊
雷电竞下载苹果
raybet推荐吗
关于我们
博客
材料科学与工程的发展
日报》概述
对于作者
对于审查员
的编辑器
表的内容
特殊的问题
材料科学与工程的发展
/
2012年
/
文章
/
图2
/
研究文章
高空间分辨率飞行时间二次离子质谱质量:一种新型正交ToF FIB-SIMS仪器
原位
AFM
图2
室内FIB / SEM-SIMS原型。样品阶段已降至使收藏镜头的安排和带电粒子列清楚。西姆斯工作,样品通常是定位在一个9毫米低于SEM专栏的工作距离,和倾斜55°的样品表面正常事件镓离子。额外的仪器如nanomanipulators、注气系统和EDX或疯牛病探测器可以根据需要添加。对SPM测量,SPM大会是安装在样品阶段。