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材料科学与工程的发展
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材料科学与工程的发展
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2012年
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图13
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高空间分辨率飞行时间二次离子质谱质量:一种新型正交ToF FIB-SIMS仪器
原位
AFM
图13
旁边的VECSEL 3/1(见文本)。至于深度剖面,所有的功能都可以看出,预计每个量子阱增益区域内的结构(44 nm厚包含三个10 nm乐队富铝)。100纳米厚铝富裕地区在分布式布拉格反射器(图和图像的右边)分离但没有平顶建筑物。订单的横向分辨率是100海里的例子。