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材料科学与工程的发展
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材料科学与工程的发展
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2012年
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文章
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图1
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研究文章
高空间分辨率飞行时间二次离子质谱质量:一种新型正交ToF FIB-SIMS仪器
原位
AFM
图1
仔细看看质量分析器的位置的背面;很少有可用空间。涡轮泵的质量分析器(保护检测器)将取代离子泵。正交提取的电子脉冲发生器放置接近质量分析器为了保护脉冲波形。