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《光谱学
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《光谱学
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2018年
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图2
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统计上的校准的x射线荧光光谱法岩石和矿物的主要元素
图2
拦截(
)
普通最小二乘线性回归的值(OLR)和uncertainty-based加权最小二乘线性回归(UWLR)模型(SiO光谱仪校准的主要元素
2
P
2
O
5
在岩石和矿物。符号作为插图所示。缩写,见图
1
。请注意一些拦截值绘制在图;这是由箭头表示数据点。零的水平线在拦截价值代表了“理想”拦截。