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2017年
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图8
研究文章
高频InGaAs MOSFET氮化与侧壁为低功率应用程序设计
图8
(一)电流增益,单边功率增益与频率(固体:电流增益
;开放:单边功率增益
),(b)寄生参数
和
与频率(固体:
;开放:
)InGaAs MOSFET的侧壁间隔2厚度变化从2到10 nm设计。
(一)
(b)
文章奖:2020年杰出的研究贡献,选择由我们的首席编辑。
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。