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2017年
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图7
研究文章
高频InGaAs MOSFET氮化与侧壁为低功率应用程序设计
图7
InGaAs MOSFET的特点与侧壁“间隔2”从2到10 nm设计厚度变化。
文章奖:2020年杰出的研究贡献,选择由我们的首席编辑。
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