绝缘体聚合物薄膜厚度对存储器行为的影响：聚甲基丙烯酸甲酯和聚苯乙烯的情况

（a）聚合物层的SEM图像和（b）顶部铝电极显示出8 v循环施加到Al / PVA（10nm）-pmma（22nm）/ al器件的情况下没有损坏。与第一种情况相反，当应用20V的循环时，SEM图像在PMMA层和（D）顶铝电极中显示出物理损坏。（c）的插图显示了PMMA层的铝元素映射。