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S. Dib, C. Salame, N. Toufik, A. Khoury, F. Pélanchon, P. Mialhe， ＂电子器件表征的结参数提取"，有源和无源电子元件， 卷。27， 文章的ID826353， 7 页面， 2004． https://doi.org/10.1080/1042015031000073805
电子器件表征的结参数提取
收到了
2002年10月22日
修改后的
2002年11月17日
摘要
提出了一种从电流-电压特性描述中提取结参数的新方法。仿真结果表明，单指数模型参数的确定具有较高的精度。该方法易于在器件表征的控制过程中实现。利用单指数模型参数随时间的变化为退化量化提供了一种方法，该方法用于观察双极晶体管的发射极-基极结老化过程。
版权
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