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S. Dib, A. Khoury, F. PeLanchon, P. Mialhe, ”利用双指数模型确定结参数”,有源和无源电子元件, 卷。25, 文章的ID232713, 8 页面, 2002。 https://doi.org/10.1080/08827510213496
利用双指数模型确定结参数
收到了
2001年11月15日
修改后的
2001年12月03
摘要
采用双指数模型来表征微电子器件的结态特性。提出了一种从电流-电压特性中提取物理结参数的方法。考虑了初始值对计算过程的影响，并从模拟提取结果中讨论了计算精度。一个实验测试考虑双极晶体管的发射极-基极结。
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