有源和无源电子元件

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有源和无源电子元件/2000/文章

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23 |文章编号 483598 | 11 网页 | https://doi.org/10.1155/APEC.23.163

对线宽,组成和的烧成温度在微带线性能的影响研究

收到 2000 06月08日
公认 2000 7月12日

抽象

的透射率和不同宽度的微带线的反射率,由厚膜和薄膜技术制造进行了研究在X和Ku波段(8-18千兆赫)。的无玻璃料的厚膜银膏具有不同粘合剂组合物配制本国和丝网印刷的氧化铝基片上的微带线。这些微带与ESL(USA)糊剂和也Cu薄膜电路所作的微带进行比较。线宽度,组成和烧成温度对厚膜微带的效果进行了研究。所有的本国制备的Ag厚膜的透射率与ESL糊剂制备微带膏相比良好。所有这些厚膜浆料中得到了良好的透光率高达18.0 GHz的。结果表明,在700℃焙烧最好给出薄膜,并且如果是用于金属化高达18.0 GHz的厚膜18密耳或20密耳的线宽度比常规25密耳线宽更合适。

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