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卷 13 |文章编号 54096 | 6 网页 | https://doi.org/10.1155/1988/54096

片状电阻和电流噪声行为厚膜电阻实验导电材料的晶粒尺寸和体积分数的依赖

F.穆勒¹和 M.沃尔夫¹

¹Zentralinstitut献给FestkörperphysikUND Werkstofforschung德Akademie的德Wissensenchaften德DDR，德国

收到 1986年09月04

公认 1987年3月30日

抽象

分别关于表面电阻率的对晶粒尺寸和体积分数，依赖性和噪声系数，所述的类似金属Bi组分的实验结果₂茹₂Ø₇系厚膜电阻被呈现。该结果与目前的车型在这些电阻的导电机理比较。

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