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E. Przybyl, E. Peciakowski, "消费电子产品电子元件可靠性符合性测试",有源和无源电子元件, 卷。11, 文章的ID967398, 10 页面, 1985. https://doi.org/10.1155/APEC.11.261
消费电子产品电子元件可靠性符合性测试
收到了
1981年6月29日
接受
1983年10月31日
摘要
本文讨论了波兰电子元器件可靠性符合性测试的组织。测试的目的是找出组件对生产者和用户的可靠性,从而建立双方的可靠性。所描述的系统源自标准方法,有两个目的。它们是:-1)使生产能够定期检查。2)估计所生产部件的可靠性水平。在威布尔分布的基础上构造了抽样方案。进行单独的寿命试验是为了将可靠性水平与规范中的可靠性水平进行比较,也为了能够积累数据以计算平均失效率。这些测试由UNITRA-ELECTRON质量中心监督。然后,该中心可以为电子设备的设计者和制造商提供有关电子元件的可靠性数据。本文提出的可靠性符合性测试系统如果能经常进行,将会发挥作用。目标也是在尽可能短的时间内取得成果。为了达到这些目的,进行了加速寿命试验。探讨了包括加速寿命试验在内的技术对聚酯电容器可靠性研究的适用性。
版权
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