厚膜IC-S的电化学迁移

摘要

银在导体-绝缘体系统中的迁移现象是众所周知的，但其他几种金属也有迁移现象却鲜为人知。本文对这一现象在厚膜电路中的应用作了简要的总结。对厚膜电路中使用的不同导体进行了试验。通过扫描电子显微镜和发射的x射线的波长色散分析，观察了电化学迁移形成的树突。通过获得二次和反向散射电子图像、x射线图和剖面，可以确定哪些成分引起了导体中的迁移。给出的照片说明了结果。在受控环境中进行了热湿偏置试验，以比较不同厚膜系统的性能。

有源和无源电子元件

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