PDF
开放获取
t . m . Berlicki， ＂薄膜电容器电压退化模型"，有源和无源电子元件， 卷。12， 文章的ID026014， 8 页面， 1985． https://doi.org/10.1155/1985/26014
薄膜电容器电压退化模型
收到了
1983年11月01
接受
05年8月1984年
摘要
提出了薄膜电容器的退化模型。该模型考虑了损伤率dD/dt是损伤值D的函数，同时考虑了临界损伤Dc是工作电压的函数。在此基础上，定义了短时击穿电压及其分布。给出的实验数据与所描述的模型相符。
版权
版权所有©1985 Hindawi出版公司。这是一篇发布在知识共享署名许可协议，允许在任何媒介上不受限制地使用、传播和复制，但必须正确引用原作。
