开放存取
LED的可靠性;是加速老化试验是否可靠?
收到
1981年4月16日
公认
1981年10月20日
抽象
使用多种不同的技术例如机制,从而导致LED的光输出降低进行了研究深层次的光谱,电致发光,少数载流子寿命测量。几个过程,揭示具有不同的温度和应力电流的依赖性。利用基于加速老化测试结果,这些数据外推复查。
版权
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