有源和无源电子元件

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有源和无源电子元件/1982年/文章
特刊

盎格鲁 - 匈牙利研讨会微电子应用到Telcommunications产业

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9 |文章编号 826415 | 4 网页 | https://doi.org/10.1155/APEC.9.239

LED的可靠性;是加速老化试验是否可靠?

收到 1981年4月16日
公认 1981年10月20日

抽象

使用多种不同的技术例如机制,从而导致LED的光输出降低进行了研究深层次的光谱,电致发光,少数载流子寿命测量。几个过程,揭示具有不同的温度和应力电流的依赖性。利用基于加速老化测试结果,这些数据外推复查。

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