文摘

ruthenium-based厚膜电阻的退化机制研究在加速测试在各种条件下的湿度、温度和过载压力。这项研究表明,电阻的变化主要是由于水化和脱水的导电组件 RuO 2 : RuO 2 + xH 2 O ↔ RuO 2 • xH 2 O 。除了测量电阻,三次谐波指数(THI)研究特征可能表明各种电阻缺陷的程度。很强的相关性之间存在“初始THI”和“在加速变化的电阻率测试”。一个电阻器着相当大的初始THI显示非凡的阻力的变化,和有划痕和/或外来物质表面的厚膜电阻。因此,它变得明显,最初的这可以用于预测在无损检测电阻的稳定性。