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主动和被动电子元件
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特殊的问题
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1977年
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欧洲第一混合微电子学会议。第一部分
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https://doi.org/10.1155/APEC.4.85
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技术考试T.E.M.的厚膜电阻微观结构
d . j .小贩
1
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1977年5月30日
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论述了制备技术可以用于考试的厚膜电阻由透射电子显微镜微观结构。这种技术的应用,包括高压电子显微镜和电子显微镜质量分析、二氧化钌和铋Ruthenate基于厚膜电阻,被认为是。
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