《光谱学
研究文章

使用高光谱成像技术的识别损伤的梨

图5

混淆矩阵的判别结果最优支持向量机模型的基础上R,一个,和K- - - - - -米光谱。混淆矩阵的判别结果(a) R-GF-SVM模型,(b) A-RAW-SVM模型和(c) K-M-COW-SVM模型。
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