《光谱学
研究文章

使用高光谱成像技术的识别损伤的梨

图11

混淆矩阵最优支持向量机模型的基于歧视的结果R,一个,和K- - - - - -米后的光谱波长的选择。混淆矩阵的判别结果(a) R-RAW-UVE-SVM模型,(b) A-RAW-CARS-SVM模型和(c) K-M-GF-UVE-SVM模型。
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