研究文章

实验的释放CMOS-Micromachined金属层

图3

N H 4 F μ 缩影照片CMOS-MEMS膜释放的氟化铵()。蚀刻时间40分钟。蚀刻到达衬底为7.6米深度,但钝化层受损。
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