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纳米技术杂志》
纳米技术杂志》/2008年/文章/图5

研究信

实现高纵横比的轨道长度宽度在模具离散跟踪记录媒体

图5

70 nm的SEM图像跟踪。
765398. fig.005

文章奖:2020年杰出的研究贡献,选择由我们的首席编辑。获奖的文章阅读。