TY -的A2 Fazalul Rahiman,穆罕默德哈菲兹盟——他,彭AU -魏,代表非盟-周,Mi盟——冯,彭AU - Chen Mianyi PY - 2014 DA - 2014/05/21闪烁晶体材料的选用TI -光子使用蒙特卡罗方法在工业计算机断层扫描x射线检测SP - 984716六世- 2014 AB -用x - ct检测系统是目前工业根据测试对象的特点,设计和测试对象确定用x - ct检测系统结构、工业x射线探测器/传感器属性,扫描模式,等等。所以没有统一标准的闪烁晶体探测器的几何尺寸。此外,闪烁晶体通常与一些剧毒杂质元素混合,如Tl和Cd。因此,它是必不可少的建立工程实践的指导方针来模拟不同的闪烁晶体的x射线检测性能。本文主要关注如何实现高效x射线检测用x - ct检测系统在工业蒙特卡罗(MC)方法研究x射线能量离散特征,完整的能量最高效率,和一些闪烁晶体转换效率(例如,CsI (Tl)奈(Tl)和CdWO₄)在x射线与这些闪烁晶体。我们的实验结果表明,CsI (Tl)闪烁晶体转换效率的优点,光谱匹配,制造工艺,和全能量最高效率;这是一个理想的选择对高效x射线检测在工业系统。SN - 1687 - 725 - 2014/984716 / 10.1155 x你——https://doi.org/10.1155/2014/984716——摩根富林明-《传感器PB Hindawi出版公司KW - ER