TY - JOUR A2 - Rossi, Marco AU - Singar, Sumitra AU - Joshi, n.k. AU - Ghosh，p . k . PY - 2018 DA - 2018/03/29 TI -完美小说DET-FF在22纳米CMOS低功耗应用SP - 2934268六世- 2018 AB -双边缘触发(检波器)技术是最喜欢选择数字VLSI设计的该领域的研究人员,因为它的高性能和低功耗消耗标准。与单边触发(SET)技术相比，双边触发技术以一半的时钟频率提供类似的吞吐量。双边触发技术可以降低50%的功耗，增加系统总功耗节省。提出了一种低功耗无差错的新型双边触发触发器设计。目前，现有的DET-FF设计仍采用c元素电路或1P-2N结构或2P-1N结构，但提出的新设计采用c元素电路和2P-1N结构的结合。在本设计中，如果任何故障影响到其中一个结构，那么它将被其他结构抵消。为了控制输入负载，两个电路被合并以共享连接到输入端的晶体管。在提出的设计中，我们使用了一个内部双反馈结构。所提出的设计减少了延迟和功耗，提高了系统的速度和效率。 SN - 1687-9503 UR - https://doi.org/10.1155/2018/2934268 DO - 10.1155/2018/2934268 JF - Journal of Nanotechnology PB - Hindawi KW - ER -