TY -的A2 Tortora卢卡盟——Ramohlola Kabelo e . AU - Iwuoha,伊曼纽尔。非盟- Hato Mpitloane j . AU - Modibane Kwena d . PY - 2020 DA - 2020/12/16 TI -二硫化钼纳米结构的表征仪器技术SP - 8896698六世- 2020 AB -优秀的化学和物理性质的材料(纳米材料)的尺寸小于100纳米(纳米)导致研究人员和企业家有极大的兴趣在他们的发现和应用程序在各种系统/应用程序。作为他们的尺寸降低到纳米尺度,这些纳米材料往往具有特殊的性质不同于大部分同行;因此,他们发现应用在电子产品和药品。为了将它们应用在这些应用程序中,需要合成这些纳米材料和研究他们的结构、光学和电化学性能。在几个纳米材料,二硫化钼(金属氧化物半导体₂)收到了一个极大的兴趣在能源应用由于其特殊的性质,如稳定性、导电性和催化活动。因此,巨大的挑战在于找到最先进的表征技术,揭示了不同金属氧化物半导体的性质₂纳米结构的准确性。在这方面,有一个需要学习和使用一些技术来准确地研究金属氧化物半导体的表面化学和物理₂纳米结构。因此,本文将全面讨论详细的文献调查分析技术,可用于研究化学,物理,和金属氧化物半导体的表面性质₂纳米结构,即紫外-可见光谱(紫外)、光致发光光谱(PL),傅里叶变换红外光谱(FTIR)、拉曼光谱、飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS), X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)、扫描和透射电子显微镜(SEM、TEM)、原子力显微镜(AFM),能量色散X射线能谱(EDS / X)、热重分析(TGA)、差示扫描量热法(DSC)和electroanalytical方法包括线性扫描(LSV)和循环伏安法(CV)、电化学阻抗谱(EIS)。SN - 2090 - 8865你2020/8896698 / 10.1155——https://doi.org/10.1155/2020/8896698——摩根富林明——《化学分析方法PB - Hindawi KW - ER