TY - JOUR TI - 面波多径信号在近场微波成像VL - 2012 PY - 2012 DA - 2012/04/10 DO - 10.1155 /六十九万七千二百五十三分之二千○十二UR - https://doi.org/10.1155/2012/697253AB - 微波成像技术是容易从不需要的多径信号的信号损坏。近场系统特别容易，因为信号可以散射并从内或成像区的边界上的结构的物体反射。当表面波沿发射传播和接收天线馈线等低损耗路径的电势产生的这些问题进一步加剧。在本文中，我们分析了从面波效应引起的多径信号的贡献。具体而言，实验用来自耦合流体箱的底板定位在不同高度的近场微波成像阵列进行。与流体不同的进料线的长度的天线阵列，还评价。结果表明，表面声波腐败上方跨越测量阵列的最长传输距离接收到的信号。然而，表面波的影响可以消除提供馈送线长度足够长的独立发送/接收从成像箱底天线尖端的距离。理论预测证实实验观察。 JF - International Journal of Biomedical Imaging SN - 1687-4188 PB - Hindawi Publishing Corporation SP - 697253 KW - A2 - Fear, Elise AU - Meaney, Paul M. AU - Shubitidze, Fridon AU - Fanning, Margaret W. AU - Kmiec, Maciej AU - Epstein, Neil R. AU - Paulsen, Keith D. ER -