TY -的A2 - Yu,“非盟——妖妇,Zarral盟——法理Djahli盟,法比安Ndagijimana PY - 2014 DA - 2014/07/24 TI -同轴技术框架在反射特征的单一和多层材料调整气隙SP - 324727六世- 2014 AB -技术基于固定探测器在使用反射微波反射计作为一种新的诊断工具检测皮肤癌症,对复介电常数测量液体样品和油页岩,和动物的器官和组织的复杂介质介电常数测量微波波段的现代兽医的需要。在这项工作中,我们已经开发出一种技术来描述多层材料宽带频率范围。反射专门开发的同轴探针微电子衬底。使用SMA连接器,损耗角正切的10⁻⁴和相对介电常数测量的误差为0.145%。扩展反射技术的同轴探针多层基板缩醛树脂、聚四氟乙烯等允许测量双层材料提供了良好的知识一层的电气参数和尺寸。在同轴传输线方法中,一个因素大大影响结果的准确性测试材料之间的空气间隙和同轴测试夹具。在这篇文章中,我们已经讨论了空气间隙的影响(使用0.5毫米间隙气体样品)的,可以采取措施减少影响当材料测量。内在价值从而决定已被实验验证。我们已经描述了测试夹具的结构,其校准问题,和实验结果。最后,电磁模拟显示,可以获得最好的结果。SN - 1687 - 5869你2014/324727 / 10.1155——https://doi.org/10.1155/2014/324727——摩根富林明天线和传播的国际杂志PB - Hindawi出版公司KW - ER