TY - JOUR AU - Marrakh，R. AU - Bouhdada，A. PY - 2000 DA - 1900年1月1日TI - 接口缺陷分布为建模ñ-MOSFETs在热载流子强调SP - 861687 VL - 23 AB - SN - 0882-7516 UR - https://doi.org/10.1155/APEC.23.137 DO - 10.1155 / APEC.23.137 JF - 有源和无源电子元件PB- Hindawi出版公司公司KW - ER -