TY -的A2 -克莱顿,约翰。d . AU - Haro-Baez,劳尔诉盟——Corcoles胡安AU - Ruiz-Cruz,豪尔赫·a . AU - Montejo-Garai何塞·r . AU - Rebollar耶稣m . PY - 2019 DA - 2019/01/10 TI -高阶模式的电磁分析材料样本两个法兰之间的同轴探针对宽带介电测量造型设置SP - 6404812六世- 2019 AB -材料的介电性能的表征需要测量技术及其相关的分析方法。在这部作品中,配置包括两个同轴探针材料介电测量他们之间进行了分析与模式匹配的方法。效应,提出了两个模型与不同的复杂性和特殊性。它将显示如何加快收敛的准确的结果通过使用一个适当的高阶模式的选择以及完美的电壁和完美的结合磁壁边界条件。它也将显示频率响应是如何影响法兰安装尺寸,可以,严格和有效,考虑使用相同类型的方法。这个数值研究是通过广泛的模拟验证与参考价值从另一个方法,说明该方法可用于这个著名的宽带特性,但在最近的一个新的研究团体的兴趣,介电测量设置。SN - 1687 - 9120 UR - https://doi.org/10.1155/2019/6404812 - 10.1155 / 2019/6404812摩根富林明数学物理的进步PB - Hindawi KW - ER